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Park FX40 a potenza atomica completamente automatica
Il prodotto consente di acquisire immagini di scansione ad alta nitidezza, ad alta definizione e ad alta risoluzione in una vasta gamma di applicazion
Dettagli del prodotto

Il prodotto consente di acquisire immagini di scansione ad alta nitidezza, ad alta definizione e ad alta risoluzione con una varietà di applicazioni. Promuovere la ricerca e lo sviluppo e promuovere le nuove scoperte scientifiche con velocità e precisione eccezionaliL’FX40 utilizza al meglio l’intelligenza artificiale e il processo completamente automatizzato soddisfa le esigenze del microscopio a nanoscala dell’utente. La calibrazione laser automatica assiale aggiuntiva, il sistema di allarme precoce e di sicurezza automatica dei guasti, l'estrazione e l'archiviazione sincronizzate delle informazioni consentono agli scienziati di ricerca che non sono specializzati nel microscopio a forza atomica di accedere facilmente e rapidamente ai risultati della scansione.

Elevato coefficiente di sicurezza

Dispositivi di atterraggio sicuriProtezione completa dei campioni e delle sonde

ParkLa combinazione di sensori anti-collisione e software di catena consente di proteggere meglio le punte dell'ago eAFMLo scanner. programmazione algoritmica,ZIl tavolo mobile può essere sollevato solo entro il limite della collisione della punta dell'ago con la superficie del campione, evitando danni dovuti al contatto della sonda con il campione, migliorando notevolmente la produttività e la precisione della misura.


Sensori ambientali autodiagnostici

Gli scanner intelligenti visualizzano e memorizzano i risultati delle misurazioni del sensore. I sensori misurano principalmente le condizioni ambientali di base come temperatura, umidità, livelli e vibrazioni. Aiuta gli utenti a scansionare le immagini in diverse condizioni ambientali e a selezionare gli indicatori ambientali adatti per te.


Sistema di installazione di sonde sicuro

L'utente può scegliere tra l'installazione manuale o automatica della sonda, mentre il sistema intelligente integrato rileva e avvisa automaticamente l'utente in caso di installazione sbagliata della sonda, migliorando così la precisione della misurazione.


Park FX40Parametri tecnici

Scanner XY
Costruzione

▪ Scanner flessibile bidimensionale parallelo monomodulo
▪ Migliore simmetria rispetto agli scanner flessibili


Gamma di scansione XY

▪ 100 µm x 100 µm

Scanner Z
Costruzione

▪ Scanner potente a orientamento flessibile
▪ Migliore simmetria rispetto agli scanner flessibili

Scala di scansione Z

▪ 15 µm

Caricare campioni
Caricare

▪ Aspirazione magnetica per un massimo di 4 campioni
▪ Tavola di campionamento multifunzione incorporata FX

Tavola di azionamento
Gamma di percorso della tavola di spostamento Z

▪ 22 mm (motorizzato)

Visione
Visione

▪ Visione coassiale del campione
▪ Stessa vista del microscopio ottico

CCD

▪ 5,1 milioni di pixel
▪ Dimensioni del pixel: 3,45 μm x 3,45 μm

Controllatore del microscopio di forza atomica
Amplificatore a fase di blocco

▪ 4 canali integrati 16Hz-5MHz

parti
Cambio automatico dell'ago

▪ La tecnologia automatica del cambio dell'ago può essere utilizzata per sostituire gli aghi in meno di un minuto

Sonde di carico

▪ Caricamento con portasonda

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